1．光纖本征因素是指光纖自身因素，主要有四點。
（1）光纖模場直徑不一致；
（2）兩根光纖芯徑失配；
?。?）纖芯截面不圓；
?。?）纖芯與包層同心度不佳。
其中光纖模場直徑不一致影響最大，按CCITT(國際電報電話咨詢委員會)建議，單模光纖的容限標(biāo)準(zhǔn)如下：
模場直徑：（9~10μm）±10％，即容限約±1μm；
包層直徑：125±3μm；
模場同心度誤差≤6％，包層不圓度≤2％。
2．影響光纖接續(xù)損耗的非本征因素即接續(xù)技術(shù)。
（1）軸心錯位：單模光纖纖芯很細(xì)，兩根對接光纖軸心錯位會影響接續(xù)損耗。當(dāng)錯位1.2μm時，接續(xù)損耗達(dá)0.5dB。
?。?）軸心傾斜：當(dāng)光纖斷面傾斜1°時，約產(chǎn)生0.6dB的接續(xù)損耗，如果要求接續(xù)損耗≤0.1dB，則單模光纖的傾角應(yīng)為≤0.3°。
?。?）端面分離：活動連接器的連接不好，很容易產(chǎn)生端面分離，造成連接損耗較大。當(dāng)熔接機(jī)放電電壓較低時，也容易產(chǎn)生端面分離，此情況一般在有拉力測試功能的熔接機(jī)中可以發(fā)現(xiàn)。
（4）端面質(zhì)量：光纖端面要求平整且與光纖軸線垂直，而由于切割工具精度差造成端面有毛刺、端面傾斜，由此而引起的熔接損耗較大(端面傾斜1°可引起0.6dB的熔接損耗)，甚至氣泡。且往往造成光纖熔接的失敗，影響接續(xù)進(jìn)度。
?。?）光纖熔接機(jī)精度:熔接機(jī)對光纖熔接的影響主要體現(xiàn)在對芯偏差、放電參數(shù)偏差和端面檢測偏差。
對芯偏差是指熔接機(jī)對芯過程中會使光纖產(chǎn)生軸心錯位(或軸芯傾斜)，當(dāng)熔接點前后光纖軸心錯位1°時將產(chǎn)生0.5dB左右的附加熔接損耗。
放電參數(shù)偏差是指在光纖熔接放電過程中，由于放電參數(shù)不合適，使光纖熔接點變形而產(chǎn)生附加熔接損耗。變形形式有熔接點成球狀和熔接點過細(xì)兩種。球狀是由于放電不足引起的，熔接點過細(xì)是由于放電電流太強造成的。
端面檢測偏差是指熔接機(jī)對光纖端面的檢查是通過機(jī)內(nèi)成像設(shè)備(CCD)及圖像處理后的畫面來判斷光纖端面好壞的，中間任何環(huán)節(jié)的偏差都會引起對光纖端面判斷的不準(zhǔn)確，進(jìn)而引起熔接的附加損耗
?。?）接續(xù)點附近光纖物理變形：光纜在架設(shè)過程中的拉伸變形，接續(xù)盒中夾固光纜壓力太大等，都會對接續(xù)損耗有影響，甚至熔接幾次都不能改善。
3．其他因素的影響。
接續(xù)人員操作水平、操作步驟、盤纖工藝水平、熔接機(jī)中電極清潔程度、熔接參數(shù)設(shè)置、工作環(huán)境清潔程度等均會影響到熔接損耗的值。熔接機(jī)是一部高精密工具，而光纖又是微米級直徑的圓柱體，若在操作上稍有不慎，就會引起光纖熔接的附加損耗。所以要求熔接機(jī)操作員必須對熔接機(jī)非常熟練，操作步驟正確。
盤纖不正確引起的損耗應(yīng)視為宏觀彎曲，當(dāng)盤纖盒中的光纖彎曲半徑小于光纖規(guī)定的彎曲半徑時，就會產(chǎn)生由彎曲而引起的附加損耗。盤纖工藝滿足要求時將不會產(chǎn)生(或產(chǎn)生較小的)附加損耗。
光纖熔接接續(xù)要求操作環(huán)境必須符合設(shè)備的要求，才能保證光纖的接續(xù)損耗滿足工程設(shè)計要求。如果灰塵落在去掉一次涂覆層的裸光纖上，在光纖熔接后的補強中，就會引起光纖的微彎，產(chǎn)生附加的彎曲損耗；如果灰塵落在熔接機(jī)的V型槽中，就會引起熔接機(jī)在對光纖對芯操作中的電機(jī)極限，或引導(dǎo)起光纖軸心傾斜導(dǎo)致熔接失敗。